University of Ioannina - Dept. of Computer Science
  Τεχνικές Σχεδίασης Κυκλωμάτων CMOS (T13)
Χειμερινό Εξάμηνο 2016-2017
 Γενικές Πληροφορίες
  Παραδόσεις Μαθημάτων:    Τρίτη 14:00 - 17:00

Αίθουσα:    Β2
 
Project Meeting:                   
                   
Αίθουσα:    Β25
 Διδάσκων
Όνομα e-mail Ώρες Φοιτητών Γραφείο
Γεώργιος Τσιατούχας   tsiatouhas_at_cs.uoi.gr Τετάρτη-Πέμπτη 11:00-12:00      Β-28
  Δώστε στη γραμμή subject του email τον κωδικό Τ13
 Ανακοινώσεις
 Περιγραφή
  Τεχνικές σχεδίασης ολοκληρωμένων ψηφιακών κυκλωμάτων CMOS υψηλής ταχύτητας, χαμηλής κατανάλωσης ενέργειας και χαμηλής τάσης τροφοδοσίας. Τεχνικές χρονισμού. Τεχνικές σχεδίασης για τον έλεγχο της ορθής λειτουργίας και τη διάγνωση ολοκληρωμένων κυκλωμάτων (σειριακή σάρωση, ενσωματωμένος αυτοέλεγχος, παρατήρηση ρεύματος IDDQ, εν λειτουργία έλεγχος, έλεγχος μνημών) και πρότυπα ελέγχου IEEE 1149.1 και ΙΕΕΕ 1500.
 Προαπαιτούμενα
  Το μάθημα απαιτεί στοιχεία από τα προπτυχιακά μαθήματα που ακολουθούν, τα οποία καλύπτονται με εισαγωγικές διαλέξεις.
     - Ψηφιακή Σχεδίαση
     - Κυκλώματα VLSI
 Μαθήματα
Ενότητα   Αντικείμενο   Διαφάνειες   Κεφάλαιο   Σχόλια  
1η   Εισαγωγή   pdf File         
2η   CMOS Λογικός Σχεδιασμός  pdf File     Εισαγωγικό  
3η   Θεωρία MOSFET & NOT  pdf File     Εισαγωγικό  
4η   Διάδοση Σήματος pdf File     Εισαγωγικό  
5η   Λογικές Οικογένειες pdf File     Εισαγωγικό  
6η   Στοιχεία Μνήμης & Άλλα pdf File     Εισαγωγικό  
7η   Τεχνικές Χρονισμού pdf File         
8η   Χαμηλή Κατανάλωση I pdf File         
9η   Χαμηλή Κατανάλωση II pdf File         
10η   Έλεγχος Ορθής Λειτουργίας pdf File        
11η   Σειριακή Σάρωση pdf File         
12η   Ενσωματωμένος Αυτοέλεγχος pdf File        
13η   Παρατήρηση Ρεύματος IDDQ pdf File         
14η   JTAG-IEEE 1149.1 pdf File        
15η   SECT-IEEE 1500 pdf File         
16η   Εν-Λειτουργία Έλεγχος pdf File        
 Σύνδεσμοι
  IEEE Xplore Ηλεκτρονική Βιβλιοθήκη IEEE:
http://ieeexplore.ieee.org
  IEEE TTTC IEEE Test Technology Technical Council (TTTC):
http://tab.computer.org/tttc/
  SoC Test IEEE Standard for Embedded Core Test - SECT:
http://grouper.ieee.org/groups/1500/
 Βιβλιογραφία

  Cover of Bernstein's Book K. Bernstein et.al.
High Speed CMOS Design Styles.
Kluwer Academic Publishers


  Cover of Rabaey's Book J. Rabaey and M. Pedram
Low Power Design Methodologies.
Kluwer Academic Publishers


  Cover of Kuo's Book J. Kuo and J. Lou
Low Voltage CMOS VLSI Circuits.
Wiley


  Cover of Wang's Book L-T. Wang, C. Stroud and N. Touba
System on Chip Test Architectures.
Morgan - Kaufmann


  Cover of Baker's Book J. Baker, H. Li and D. Boyce
CMOS Circuit Design: Layout and Simulation.
IEEE Press


 Διαδικαστικά
  Project: Το project είναι υποχρεωτικό και λαμβάνεται υπόψιν αποκλειστικά για το τρέχον ακαδημαϊκό έτος. Το project συνεισφέρει το 30% στο βαθμό του μαθήματος όταν έχει ολοκληρωθεί επιτυχώς, σε άλλη περίπτωση το ποσοστό αυτό μειώνεται ανάλογα με τις επιδόσεις.
  Εργαστήρια: -

© Γεώργιος Τσιατούχας Ενημέρωση: Σεπτέμβριος 2017